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TTS2100 非接觸式薄膜 / 鍍層厚度測(cè)定裝置
更新日期：2026-07-29
訪問(wèn)量：98
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：日本
一、日本 TECHNO MU TTS2100 非接觸式薄膜 / 鍍層厚度測(cè)定裝置 商品基礎(chǔ)檔案
| 項(xiàng)目 | 詳細(xì)內(nèi)容 |
|---|---|
| 品牌廠商 | TECHNO MU（株式會(huì)社テクノミュー，日本專業(yè)精密光學(xué)測(cè)量設(shè)備制造商） |
| 完整產(chǎn)品名稱 | TTS2100 非接觸式薄膜/鍍層厚度測(cè)定裝置 |
| 產(chǎn)品別名 | 激光非接觸測(cè)厚儀、光學(xué)無(wú)接觸膜厚檢測(cè)儀、多層薄膜無(wú)損厚度測(cè)量機(jī)、透明薄片鍍層厚度測(cè)定設(shè)備 |
| 產(chǎn)品分類 | 激光光學(xué)干涉式非接觸薄膜、鍍層厚度精密檢測(cè)設(shè)備 |
| 適用行業(yè) | 光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體鍍膜、精密塑膠薄片、鋰電池隔膜、光學(xué)鏡片鍍層、醫(yī)用薄膜、電子涂層零部件質(zhì)檢實(shí)驗(yàn)室 |
| 適配檢測(cè)試樣 | 單層/多層透明薄膜、透光光學(xué)鍍層、鋰電池超薄隔膜、軟質(zhì)塑膠薄片、鍍膜光學(xué)鏡片；可檢測(cè)單層厚度、總膜厚、多層分層獨(dú)立厚度、樣品厚度均勻性分布 |
| 出廠標(biāo)準(zhǔn)配置 | TTS2100測(cè)厚測(cè)量主機(jī)、高精度激光干涉光學(xué)測(cè)厚探頭、XY雙軸伺服電動(dòng)平移載物臺(tái)、配套工業(yè)工控顯示單元、薄膜鍍層厚度專用光譜分析軟件、設(shè)備操作手冊(cè)、原廠整機(jī)精度校準(zhǔn)證書(shū)、標(biāo)準(zhǔn)厚度校準(zhǔn)薄膜片、配套供電線纜、信號(hào)傳輸數(shù)據(jù)線、設(shè)備防塵外罩 |
| 可選拓展配件 | 工件自動(dòng)旋轉(zhuǎn)分度工裝、大行程拓展載物臺(tái)、高透光超薄樣品專用光學(xué)鏡頭、自動(dòng)化產(chǎn)線機(jī)械手對(duì)接接口、MES生產(chǎn)管理系統(tǒng)數(shù)據(jù)對(duì)接插件、恒溫防塵防護(hù)機(jī)柜、批量樣品自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)厚程序模塊 |
二、日本 TECHNO MU TTS2100 非接觸式薄膜 / 鍍層厚度測(cè)定裝置 商品核心上架關(guān)鍵詞
標(biāo)題關(guān)鍵詞：TECHNO MU TTS2100非接觸厚度測(cè)定裝置
功能關(guān)鍵詞：激光無(wú)接觸薄膜厚度測(cè)量、多層鍍層無(wú)損膜厚檢測(cè)
應(yīng)用關(guān)鍵詞：光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體鍍膜、鋰電池隔膜、鏡片鍍層測(cè)厚設(shè)備
產(chǎn)品特性關(guān)鍵詞：非接觸不傷薄膜、多層分層測(cè)厚、電動(dòng)自動(dòng)掃描
拓展關(guān)鍵詞：日本TECHNO MU TTS2100、光學(xué)非接觸膜厚儀
三、產(chǎn)品簡(jiǎn)介
TTS2100是日本TECHNO MU打造的激光干涉光譜式一體化非接觸測(cè)厚設(shè)備，專門(mén)針對(duì)各類透光薄膜、光學(xué)鍍層、超薄軟質(zhì)隔膜開(kāi)發(fā)，區(qū)別于接觸式、渦流、X射線測(cè)厚設(shè)備，依靠純光學(xué)激光干涉原理完成厚度檢測(cè)，全程無(wú)任何硬質(zhì)探頭、測(cè)頭觸碰樣品表面。
針對(duì)超薄軟膠薄膜、鋰電池隔膜、光學(xué)鍍膜鏡片這類易擠壓形變、表面易刮傷、鍍層易磨損的工件，傳統(tǒng)接觸式測(cè)厚設(shè)備會(huì)壓薄樣品、劃傷鍍膜，造成樣品報(bào)廢；本設(shè)備規(guī)避物理接觸帶來(lái)的樣品損傷問(wèn)題，各類高精密透光薄膜、鍍層均可無(wú)損完成厚度檢測(cè)。
設(shè)備核心搭載XY雙軸閉環(huán)伺服電動(dòng)平移載物臺(tái)，定位重復(fù)精度高，可自定義多點(diǎn)掃描點(diǎn)位、掃描間距，全自動(dòng)移動(dòng)樣品完成全域多點(diǎn)厚度采集，無(wú)需人工手動(dòng)移動(dòng)樣品，標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)流程消除人工定位誤差。激光探頭垂直發(fā)射寬譜激光照射透光樣品，激光分別在薄膜上表面、層間界面、下表面發(fā)生反射，多束反射光產(chǎn)生干涉光譜；設(shè)備內(nèi)置高精度光譜傳感器采集干涉波形，配套專用分析軟件解析光譜特征，自動(dòng)換算每一層薄膜獨(dú)立厚度、樣品總厚度，同時(shí)生成樣品表面厚度分布云圖，直觀展示薄膜厚薄均勻性。
整機(jī)采用高剛性減震鋁合金機(jī)架，自帶防滑減震支撐腳墊，隔絕實(shí)驗(yàn)室電機(jī)、沖壓設(shè)備輕微震動(dòng)對(duì)光譜采集精度的干擾；出廠成套配備工業(yè)工控顯示單元與完整正版膜厚分析軟件，整機(jī)接線、簡(jiǎn)單精度校準(zhǔn)后即可直接開(kāi)展檢測(cè)工作，無(wú)需額外采購(gòu)配套電腦與程序。設(shè)備適配中小型工廠質(zhì)檢室、光學(xué)/新能源研發(fā)實(shí)驗(yàn)室場(chǎng)地條件，廣泛用于光學(xué)PET薄膜來(lái)料厚度全檢、鏡頭光學(xué)鍍層成品抽樣檢測(cè)、鋰電池隔膜厚度均勻性測(cè)試、多層復(fù)合光學(xué)薄膜分層厚度研發(fā)對(duì)比、半導(dǎo)體晶圓鍍膜厚度管控。
四、核心工作原理
激光干涉光譜厚度采集原理 設(shè)備寬譜激光發(fā)射頭輸出連續(xù)波段激光垂直照射透光薄膜樣品，激光會(huì)在薄膜空氣上界面、多層薄膜層間界面、薄膜基底下界面分別發(fā)生反射；多束反射激光回傳至設(shè)備光譜傳感器后產(chǎn)生干涉波形，不同薄膜厚度對(duì)應(yīng)干涉光譜曲線，軟件通過(guò)匹配光譜特征計(jì)算各分層厚度與總膜厚。
XY雙軸電動(dòng)全自動(dòng)多點(diǎn)掃描原理 X/Y水平雙軸搭載伺服驅(qū)動(dòng)平移機(jī)構(gòu)，控制系統(tǒng)可自定義檢測(cè)區(qū)域、多點(diǎn)掃描點(diǎn)位、點(diǎn)位間距；載物臺(tái)帶動(dòng)樣品自動(dòng)移動(dòng)至預(yù)設(shè)檢測(cè)點(diǎn)位，激光探頭依次完成各點(diǎn)位光譜采集，全程無(wú)需人工手持移動(dòng)樣品，統(tǒng)一掃描點(diǎn)位標(biāo)準(zhǔn)，批量樣品厚度數(shù)據(jù)一致性更高。
膜厚數(shù)據(jù)解析與報(bào)表生成原理 工控顯示單元接收設(shè)備傳輸?shù)脑几缮婀庾V數(shù)據(jù)，膜厚分析軟件自動(dòng)完成光譜降噪、基線校正、分層光譜拆分；自動(dòng)計(jì)算每一層薄膜獨(dú)立厚度、樣品總厚度，生成二維厚度分布云圖展示厚薄差異；全部厚度數(shù)值、光譜曲線、厚度云圖實(shí)時(shí)可視化展示，支持一鍵導(dǎo)出標(biāo)準(zhǔn)化PDF檢測(cè)報(bào)告與Excel原始厚度數(shù)據(jù)表格。
