一、商品基礎檔案
| 項目 | 詳細內容 |
|---|---|
| 品牌廠商 | JFEテクノリサーチ株式會社（日本JFE Techno-Research） |
| 完整產品名稱 | 膜厚分布測定裝置 全域薄膜厚度分布檢測設備 |
| 產品別名 | 全域薄膜厚度分布檢測儀、光學式薄膜膜厚輪廓測量設備、卷材薄膜橫向縱向厚度均勻度分析儀 |
| 產品分類 | 光學非接觸式薄膜膜厚精密檢測設備、卷材全域膜厚分布測繪分析儀器 |
| 適用行業 | 光學功能薄膜、鋰電池隔膜、光伏封裝膜、高分子塑料卷材、半導體涂層薄膜、柔性顯示基材、包裝功能性薄膜生產質檢與研發實驗室 |
| 適配檢測試樣 | 各類卷狀連續薄膜、單片基材鍍膜樣品；鋰電池隔膜、PET光學膜、PP/PE塑料薄膜、ITO導電鍍膜、光伏EVA/POE膠膜、柔性基材涂層膜 |
| 出廠標準配置 | 膜厚分布測定裝置立式主機、高精度光學膜厚傳感掃描模組、伺服XY軸全域自動掃描平臺、工業觸控操作終端、原廠膜厚標準校準片、膜厚分布測繪分析軟件、設備操作說明書、出廠膜厚測量精度計量校準報告、工業電源、數據傳輸線纜 |
| 可選拓展配件 | 卷材自動放卷收卷工裝、高低溫恒溫測試腔體、MES工廠產線數據對接模塊、AI膜厚異常缺陷識別軟件、多規格薄膜夾持工裝、在線連續產線對接改造套件 |
二、商品核心上架關鍵詞
標題關鍵詞：JFE全域膜厚分布測定裝置、非接觸薄膜厚度均勻度檢測儀
功能關鍵詞：XY軸全域自動掃描、薄膜橫向縱向厚度分布測繪
應用關鍵詞：鋰電池隔膜、光學PET膜、光伏膠膜膜厚檢測設備
產品特性關鍵詞：光學非接觸無損測量、高精度全域膜厚輪廓分析
拓展關鍵詞：日本JFE薄膜均勻度檢測設備、卷材膜厚研發質檢分析儀
三、產品簡介
日本JFEテクノリサーチ株式會社膜厚分布測定裝置，是光學非接觸式全域薄膜厚度分布精密檢測設備，依靠近紅外光學分光測厚原理，無需物理接觸薄膜表面，不會劃傷、壓傷各類超薄、柔性、易破損基材，可全自動完成樣品XY平面全域步進掃描，完整采集薄膜橫向、縱向全部點位厚度數值，自動生成二維膜厚分布熱力云圖、橫向/縱向厚度波動曲線，直觀定位薄膜局部偏厚、偏薄、厚度突變缺陷區域。
設備搭載閉環伺服XY軸全自動掃描平臺，可自由自定義掃描區域尺寸、掃描步距精度，實驗室小型單片試樣、寬幅卷材切片樣品均可全自動完成全域測繪，無需人工手動移動樣品；配套原廠專業膜厚分析軟件，自動計算整片薄膜平均厚度、最大厚度、最小厚度、厚度極差、厚度均勻度偏差、厚度波動標準差等關鍵工藝參數，自動標記厚度超出公差范圍的異常區域，批量存儲每一組全域膜厚原始數據、分布云圖、分析報表，支持數據導出追溯。
設備出廠完成全量程膜厚測量精度、XY軸掃描定位重復精度全套光學計量校準，可穩定適配光學功能薄膜、鋰電池隔膜、光伏封裝膠膜、高分子塑料卷材、柔性顯示基材等行業新品配方研發、成型工藝調試、成品出廠品質質檢、生產線長期工藝穩定性監控；設備基礎機型為實驗室離線檢測機型，可按需選配卷材自動放卷收卷工裝、產線對接組件，改造后直接接入薄膜連續擠出、流延、涂布生產線，實現在線不間斷全域膜厚監測。
四、核心工作原理
近紅外分光非接觸測厚原理 設備光學傳感模組發射特定波段近紅外光線照射薄膜樣品，光線穿透薄膜后發生特征吸收、反射；不同厚度高分子薄膜對近紅外光的吸收強度呈線性對應關系，傳感器采集反射/透射光譜信號，軟件通過原廠標準校準曲線換算得到薄膜實時厚度數值，全程無探頭接觸樣品，實現無損測量。
XY軸全域伺服掃描測繪原理 樣品放置于高精度XY軸伺服平移平臺，設備按照預設掃描范圍、步進間距，自動控制平臺X向橫向、Y向縱向勻速步進移動；每移動一個步距，光學傳感器自動采集該點位薄膜厚度，逐點完成整片樣品全覆蓋掃描，完整收集全域全部點位厚度數據，拼接形成完整二維膜厚分布數據矩陣。
膜厚數據解析與分布可視化原理 軟件導入全域全部點位厚度原始數據，自動運算平均厚度、厚度極值、均勻度偏差等工藝指標；基于數據矩陣生成彩色二維膜厚分布熱力云圖，不同顏色對應不同厚度區間，直觀區分厚薄區域；同時自動生成橫向、縱向任意截面厚度波動曲線，清晰展示薄膜厚度漸變、突變缺陷，自動篩選、標注厚度超公差異常點位與區域，輸出標準化檢測報表。
