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EH-3000 厚度測量儀
更新日期：2026-07-28
訪問量：84
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：日本
一、日本 EWIG 株式會社 EH-3000 厚度測量儀 商品基礎(chǔ)基本信息
| 項目 | 詳細內(nèi)容 |
|---|---|
| 品牌全稱 | EWIG（株式會社エビック，日本EWIG） |
| 完整商品名稱 | EH-3000 厚度測量儀 |
| 產(chǎn)品別名 | 薄膜片材精密厚度測試儀、塑料薄片多點厚度檢測儀、涂布膜/橡膠片厚度均勻性測量裝置、包裝材料超薄試樣厚度分析儀 |
| 產(chǎn)品型號 | EH-3000 |
| 產(chǎn)品分類 | 超薄材料高精度厚度測量設(shè)備、薄膜片材多點厚度均勻性檢測儀、非接觸式/接觸式精密厚度傳感分析裝置 |
| 適用行業(yè) | 塑料薄膜/涂布膜生產(chǎn)企業(yè)、橡膠片材研發(fā)實驗室、包裝復(fù)合膜工廠、光學(xué)薄膜材料研究所、高分子薄片材料質(zhì)檢實驗室、第三方薄膜材料檢測機構(gòu) |
| 適配測試試樣 | PET薄膜、PP/PE塑料片材、光學(xué)涂布薄膜、橡膠薄片、復(fù)合包裝膜、高分子超薄試樣、隔膜、導(dǎo)電功能薄膜 |
| 出廠標準配置 | EH-3000立式整機、高精度厚度傳感測量模組、伺服自動位移掃描平臺、工業(yè)觸控顯示屏、內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲單元、標準平整試樣定位工裝、原廠標準厚度校準標塊、設(shè)備操作說明書、厚度分布數(shù)據(jù)分析軟件、出廠厚度測量精度計量校準報告 |
| 可選拓展配件 | 多規(guī)格大尺寸片材定制定位夾具、高低溫恒溫測試腔體組件、多路并行多工位掃描模組、上位機批量厚度數(shù)據(jù)自動導(dǎo)出軟件、遠程PLC工廠MES通訊對接模塊、柔性緩沖傳感測頭、卷膜連續(xù)送料自動走料組件 |
二、商品核心關(guān)鍵詞
標題關(guān)鍵詞：EWIG EH-3000薄膜片材厚度測量儀、高分子超薄材料精密厚度檢測儀
用途關(guān)鍵詞：塑料涂布膜厚度均勻性檢測、橡膠薄片多點厚度測量
功能關(guān)鍵詞：伺服自動位移掃描、高精度厚度傳感、多點厚度分布自動采集
款式/材質(zhì)關(guān)鍵詞：立式緊湊型精密實驗室設(shè)備、耐腐蝕合金傳感傳動框架
擴展關(guān)鍵詞：全自動厚度分布曲線、薄膜片材出廠質(zhì)檢專用設(shè)備
三、產(chǎn)品簡介
日本EWIG株式會社EH-3000厚度測量儀，是薄膜、片材、超薄高分子材料專用高精度厚度精密檢測設(shè)備，依托高分辨率厚度傳感掃描原理開發(fā)，適用于各類PET、PP、PE涂布薄膜、橡膠薄片、光學(xué)功能膜、復(fù)合包裝膜全區(qū)域多點厚度自動掃描測量，定量分析片材整體厚度均勻性、局部偏薄/偏厚缺陷。
設(shè)備搭載高精度厚度傳感測量模組，搭配伺服自動位移掃描平臺，可自動完成試樣全寬度連續(xù)多點掃描，無需人工移動試樣；內(nèi)置高分辨率厚度采集傳感器，實時捕捉每一處片材厚度數(shù)值，自動記錄全幅試樣多點厚度數(shù)據(jù)；整機配套工業(yè)觸控顯示屏，可自定義多段式掃描行程、掃描點位密度全自動測試工藝，設(shè)備本地自動存儲全部測試數(shù)據(jù)，生成標準化厚度分布云圖、厚度變化曲線。
出廠完成厚度測量重復(fù)精度、伺服掃描位移定位精度全項計量校準，滿足薄膜涂布企業(yè)生產(chǎn)線質(zhì)檢、橡膠/光學(xué)薄膜新材料研發(fā)實驗室、第三方薄膜材料檢測機構(gòu)的片材厚度均勻性、局部厚度缺陷、涂布成型工藝優(yōu)化檢測需求，是高分子超薄薄膜、片材行業(yè)標準高精度厚度檢測設(shè)備。
四、核心工作原理
1. 高精度厚度傳感測量基礎(chǔ)原理：采用高分辨率厚度傳感探頭，試樣平整放置于定位平臺基準面，傳感探頭貼合試樣表面，通過傳感信號差值換算得到片材實際厚度數(shù)值；可選用柔性緩沖探頭，避免超薄軟質(zhì)薄膜受壓形變帶來測量誤差。
2. 伺服自動位移掃描原理：獨立伺服驅(qū)動水平位移平臺，掃描行程、移動速度、采樣點位密度均可觸控數(shù)字化設(shè)定；設(shè)備自動帶動傳感探頭沿試樣寬度方向連續(xù)勻速移動，全幅多點自動采集厚度數(shù)據(jù)，無需人工手動移動試樣。
3. 多點厚度數(shù)據(jù)實時采集存儲原理：傳感器毫秒級實時采集每一個掃描點位的厚度數(shù)值，同步記錄對應(yīng)水平坐標位置；設(shè)備本地大容量存儲單元自動保存每一組試樣完整掃描全過程厚度-坐標原始數(shù)據(jù)，測試完成后自動歸類分組存儲。
4. 厚度分布可視化數(shù)據(jù)分析原理：配套專用薄膜厚度數(shù)據(jù)分析軟件，導(dǎo)入設(shè)備存儲的原始坐標-厚度數(shù)據(jù)，一鍵自動生成二維厚度分布云圖、橫向厚度變化曲線；軟件自動統(tǒng)計整張片材平均厚度、最大厚度、最小厚度、厚度極差，直觀定位片材局部偏薄、偏厚缺陷區(qū)域。
