日本 KETT RN?700 谷物粒質判定器：大米外觀品質檢測的精準利器

發布時間： 2026-03-27　　點擊次數： 65次

在大米加工、育種與品控領域，快速、客觀、精準的外觀品質判定，是保障產品等級、提升市場價值的核心環節。日本 KETT（凱特科學研究所）憑借數十年谷物檢測技術積累，推出的RN?700 谷物粒質判定器，以高速圖像處理、多維度精準識別、多級分類與便捷數據輸出，成為非糯性粳米糙米與精米外觀檢測的設備，替代傳統人工分揀，實現米質檢測的標準化與數據化株式會社ケツト科學研究所。

一、核心技術：雙光源 + 智能成像，精準捕捉米粒細節

RN?700 基于高精度圖像處理技術，通過雙光源協同與三視角成像，實現米粒外觀與內部結構的檢測，從根源上避免人工檢測的主觀性與誤差。

核心硬件：搭載 500 萬像素 CMOS 圖像傳感器，搭配 RGB 三色 LED 反射光源（捕捉表面顏色、裂紋）與 10.4 英寸彩色 LCD 透射光源（穿透米粒，識別內部未熟、死米、裂隙），三視角成像確保無檢測死角。
檢測邏輯：將樣品平鋪托盤后一鍵啟動，設備自動完成成像、分析、分類與數據輸出，無需人工干預；內置智能圖像引擎，可精準計算每粒米的長度、寬度、面積，測量精度達 **±0.05mm**，捕捉肉眼難辨的細微缺陷。
分級模式：支持多級分類，適配不同場景需求 —— 糙米可實現 3 區分（快速篩選）、6 區分（標準質檢）、21 區分（科研級超細分析）；精米支持 6 類精準分級，覆蓋整粒、碎粒、未熟粒、死米、著色粒、爆腰粒等核心判定項。

二、核心優勢：高速、精準、易用，適配全場景檢測

1. 高速全檢，效率遠超人工

標準模式下約 40 秒完成 1000 粒檢測，搭配專用軟件可提速至 16 秒，效率是人工的 30 倍以上；支持 800?1200 粒批量檢測，實現從 “抽樣檢測" 到 “全檢" 的升級，杜絕瑕疵米漏檢，大幅提升品控效率。

2. 精準識別，覆蓋全維度缺陷

可精準識別糙米的白未成熟粒、著色粒、死米、碎粒、爆腰粒、異物等，以及精米的小碎粒、異種谷粒、粉狀質粒等；對微小裂紋、淺度堊白、輕微變色的識別率，滿足 JAS、ISO 等國際檢測標準。

3. 操作極簡，數據輸出靈活

無需專業技能，簡單培訓即可上手，僅需 “攤平米?！迦胪斜P→一鍵啟動" 三步完成檢測；內置打印機，支持 USB、SD 卡存儲與無線 LAN 傳輸，檢測數據可一鍵導出、存檔與溯源，適配加工、科研、貿易等多場景數據需求。

4. 適配性強，支持移動檢測

支持 DC5?24V 移動電源供電，主機重 7kg，可靈活用于田間采樣、移動實驗室、加工廠離線檢測等場景，突破固定實驗室的限制。

三、產品規格：精準參數，滿足專業需求

表格

項目	參數
測量方式	圖像處理方式
成像元件	500 萬像素 CMOS 傳感器
光源	RGB 三色 LED（反射）+10.4 英寸 LCD（透射）
檢測對象	非糯性糙米、精米（不含低直鏈淀粉米）
檢測粒數	800?1200 粒 / 次
檢測時間	約 40 秒 / 1000 粒
測量精度	粒長 / 粒寬 ±0.05mm
分級模式	糙米 3/6/21 區分；精米 6 區分
數據輸出	內置打印、USB2.0、SD 卡、無線 LAN
供電	AC100?240V 或 DC5?24V
重量	約 7kg

四、典型應用場景：賦能大米全產業鏈品控

1. 糧食加工企業

用于原糧入廠質檢、加工過程品控、成品分級，精準統計碎米率、未熟粒率、裂紋粒率，優化加工工藝，提升產品等級與合格率，降低人工分揀成本。

2. 農業科研與育種

為水稻育種提供科研級數據，快速篩選粒形整齊、缺陷率低的優良品系；量化不同品種、種植條件下的米質差異，助力品種改良與栽培技術優化。

3. 糧食貿易與質檢機構

作為第三方檢測設備，出具客觀、標準化的檢測報告，符合國際質檢標準，保障貿易公平，助力大米出口品質把控與質量溯源。

4. 農場與種植基地

用于田間采樣檢測，實時掌握稻谷成熟度與品質，指導收割時間，減少未熟粒、爆腰粒產生，提升稻谷整體品質。

五、總結：大米品質檢測的標準化解決方案

KETT RN?700 谷物粒質判定器，以高速全檢、精準識別、多級分類、便捷數據輸出為核心優勢，解決傳統人工檢測效率低、主觀性強、誤差大的痛點。無論是加工廠的批量品控、科研機構的育種研究，還是貿易領域的質檢溯源，它都能提供穩定、可靠、數據化的檢測結果，助力大米全產業鏈實現品質升級與成本優化，是專業米質檢測的優選設備。

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日本 KETT RN?700 谷物粒質判定器：大米外觀品質檢測的精準利器

一、核心技術：雙光源 + 智能成像，精準捕捉米粒細節

二、核心優勢：高速、精準、易用，適配全場景檢測

1. 高速全檢，效率遠超人工

2. 精準識別，覆蓋全維度缺陷

3. 操作極簡，數據輸出靈活

4. 適配性強，支持移動檢測

三、產品規格：精準參數，滿足專業需求

四、典型應用場景：賦能大米全產業鏈品控